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熱輔助磁記錄介質的非接觸HAM/RTAMR評估系統( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 產品總覽 產生磁場±6.5T的熱（Thermal）輔助磁記錄介質（HAMR或TAMR）非接觸評估系統。
更新時間：2025-02-25
產品型號：BH-802HM
瀏覽量：1214
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振） 產品總覽 三維無損成像技術在材料科學和醫學等許多應用領域都非常重要。我們開發了一種成像技術，利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。 例如，我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。
更新時間：2024-12-08產品型號：瀏覽量：1448
軟磁層評價系統 BH-618HS-P20（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 產品總覽 軟磁層的非接觸式評估系統，例如具有映射和傾斜角測量功能的硬盤介質中的 SUL。
更新時間：2025-02-25產品型號：BH-618HS-P20-780瀏覽量：1163
垂直磁記錄介質評價體系 BH-810CPC（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 產品總覽 具有映射評估功能的硬盤垂直記錄介質（PMR）非接觸評估系統。
更新時間：2025-02-25產品型號：瀏覽量：1170
克爾環路測量和域觀測系統 BH-1071（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 用于動態（實時）磁疇觀測和顯微克爾環測量的組合系統。
更新時間：2025-02-25產品型號：BH-1071-650瀏覽量：1009
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