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產(chǎn)品中心
光學(xué)測量儀器
光束/光斑質(zhì)量分析儀
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產(chǎn)品分類BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²
BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²
國產(chǎn)光束質(zhì)量分析儀Beam 1550 筱曉自主研發(fā)國產(chǎn)光束質(zhì)量分析儀Beam VIS/Beam 1550,默認(rèn)波長范圍190-1150nm。具有高分辨率,這款分析儀小巧輕便,便于安裝在狹小和封閉環(huán)境中。
Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR) 產(chǎn)品總覽 BeamOn U3是一種光束測量系統(tǒng)是一種光束測量系統(tǒng),用于實(shí)時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統(tǒng)是用于連續(xù)或脈沖激光束實(shí)時測量的光束診斷測量系統(tǒng)。
TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機(jī)型光束質(zhì)量分析儀 355-1150nm 應(yīng)用領(lǐng)域 連續(xù)和脈沖激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄