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  • 當前位置:首頁產(chǎn)品中心光纖/光纖器件/光纖處理光纖研磨拋光/切割剝離器IF-12-01001ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200u

    ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200u

    產(chǎn)品簡介

    ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200um)(光纖研磨拋光/切割剝離器)
    ProView XD是一款高度先進的干涉儀,用于精確測量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設計的,在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView XD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護目的。

    產(chǎn)品型號:IF-12-01001
    更新時間:2025-02-27
    廠商性質:經(jīng)銷商
    訪問量:1330
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    品牌筱曉光子價格區(qū)間面議
    組件類別其他應用領域電子/電池,電氣,綜合

    ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200um)(光纖研磨拋光/切割剝離器)


    ProView XD是一款高度先進的干涉儀,用于精確測量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設計的,在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView XD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護目的。在許多情況下,干涉條紋圖案可以非常復雜地進行分析和理解。為了便于使用和優(yōu)化檢查速度,ProView XD包括高度先進的全自動功能,用于端面表面的2D和3D地形分析。軟件會自動指示端面的半徑和角度。為了進一步簡化檢查過程,ProView XD可以設置為“通過/未通過"模式。此功能允許操作員通過圖像上的顏色代碼簡單地確定端面質量。除了角度和半徑檢查外,ProView XD還可用于測量其他一些特性,如光纖直徑和定義點之間的距離等。ProView XD-用于連接器,提供預裝支架SMA、FC/PC、ST/PC或LD80連接器支架。還有一個可選的通用v形槽夾具組件可用于檢查裸光纖。可根據(jù)需要提供定制的支架或夾具。ProView XD設計緊湊,是生產(chǎn)臺的理想選擇,可與切割機、拋光臺、超聲波清潔器和其他準備工具并排使用。ProView XD通過USB 3.0電纜連接并供電,由外部PC(不包括在內(nèi))托管。


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